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MAT. IMPRESO
Congreso Congreso Internacional de Metrología Industrial (4º. 1989. Zaragoza)

Título Metromática 89 / IV Congreso Internacional de Metrología Industrial ; editores, Fernando Torres Leza, Jesús Nievas Espuelas

Publicación [Zaragoza] : ETS Ingenieros Industriales, Universidad de Zaragoza, [1989]
Ubicación Signatura Tipo de préstamo Estado Notas
 B.Hypatia-Depósito  DEPOSITO 10636(1)    PRÉSTAMO LARGO  DISPONIBLE
Descripción física 609 p. : il. ; 29 cm
Materia Medición -- Aplicaciones industriales -- Congresos
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Autor secundario Torres Leza, Fernando, ed. lit.
Nievas Espuelas, Jesús, ed. lit.
Universidad de Zaragoza. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales, ed.
Título de parte Torres Leza, Fernando. Verificación automática de errores sistemáticos y accidentales de posicionamiento en medidoras por coordinadas y máquinas-herramienta = Method for the automatic inspection of systematic and random-type positioning errors for CMM's and machine tools
Camón Lasheras, Agustín. Patrón español de F.E.M. basado en el Efecto Josephson Spanish E.M.F. standard based on the Josephson Effect
Lera García, Francisco. Patrón español de F.E.M. basado en el Efecto Josephson Spanish E.M.F. standard based on the Josephson Effect
Navarro Linares, Rafael. Patrón español de F.E.M. basado en el Efecto Josephson Spanish E.M.F. standard based on the Josephson Effect
Rillo, Conrado. Patrón español de F.E.M. basado en el Efecto Josephson Spanish E.M.F. standard based on the Josephson Effect
Camón Lasheras, Agustín. Nuevo acuerdo internacional para los valores de las constantes de Josephson "KJ" y von Klitzing " RK" : influencia en la metrología eléctrica en España = New international agreement for the values of Josephson "KJ" and von Klitzing " RK" constants : influence on the Spanish electrical metrology
Lera García, Francisco. Nuevo acuerdo internacional para los valores de las constantes de Josephson "KJ" y von Klitzing " RK" : influencia en la metrología eléctrica en España = New international agreement for the values of Josephson "KJ" and von Klitzing " RK" constants : influence on the Spanish electrical metrology
Navarro Linares, Rafael. Nuevo acuerdo internacional para los valores de las constantes de Josephson "KJ" y von Klitzing " RK" : influencia en la metrología eléctrica en España = New international agreement for the values of Josephson "KJ" and von Klitzing " RK" constants : influence on the Spanish electrical metrology
Rillo, Conrado. Nuevo acuerdo internacional para los valores de las constantes de Josephson "KJ" y von Klitzing " RK" : influencia en la metrología eléctrica en España = New international agreement for the values of Josephson "KJ" and von Klitzing " RK" constants : influence on the Spanish electrical metrology
García Palacín, José Ignacio. Medida de distribución de tamaño de gotas en sprays por difracción láser : procesado tomográfico de la señal = Measurement of doplet size distribution in sprays by laser diffraction techniques : a tomographic data processing
López Pérez, José María. Vatímetro digital multifunción = Multifunction digital wattmetter
Arcega Solsona, Francisco Javier. Vatímetro digital multifunción = Multifunction digital wattmetter
Téllez Yus, Pedro. Controladores de temperatura basados en microprocesador para equipos de medidas físicas a bajas temporaturas = Microprocessor based temperature controllers for low-temperature phisical [i.e. physical] measurement set-ups
Rillo, Conrado. Controladores de temperatura basados en microprocesador para equipos de medidas físicas a bajas temporaturas = Microprocessor based temperature controllers for low-temperature phisical [i.e. physical] measurement set-ups
Lera García, Francisco. Controladores de temperatura basados en microprocesador para equipos de medidas físicas a bajas temporaturas = Microprocessor based temperature controllers for low-temperature phisical [i.e. physical] measurement set-ups
Burriel Lahoz, Ramón. Controladores de temperatura basados en microprocesador para equipos de medidas físicas a bajas temporaturas = Microprocessor based temperature controllers for low-temperature phisical [i.e. physical] measurement set-ups
Celma Pueyo, Santiago. Analizador de espectros en baja frecuencia realización con PC = Low frequency spectrum analyzer PC based implementation
Torres Leza, Fernando. Medición de error de la línea de flancos de anillos sincronizadores mediante medidora por coordenadas y perfilómetro = Measurement of flankline error of straight syncronizing gears with a co-ordinate measuring machine and profile meter
Castro Corella, Miguel. Adquisición y tratamiento de datos en una cadena de control de calidad de reactancias y transformadores = Treatment and data acquisition in an assembly line quality control of transformers and ballasts
Martínez, Pedro Jesús. Adquisición y tratamiento de datos en una cadena de control de calidad de reactancias y transformadores = Treatment and data acquisition in an assembly line quality control of transformers and ballasts
Rillo, Conrado. Adquisición y tratamiento de datos en una cadena de control de calidad de reactancias y transformadores = Treatment and data acquisition in an assembly line quality control of transformers and ballasts
Lera García, Francisco. Adquisición y tratamiento de datos en una cadena de control de calidad de reactancias y transformadores = Treatment and data acquisition in an assembly line quality control of transformers and ballasts
Bartolomé Usieto, José Fernando. Adquisición y tratamiento de datos en una cadena de control de calidad de reactancias y transformadores = Treatment and data acquisition in an assembly line quality control of transformers and ballasts
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Fuentelsaz Gallego, Jesús. Obtención y análisis de datos para la caracterización energética de equipos de cogeneración y calderas de alto rendimiento a través de una cadena de medida y control computerizada = Data acquisition for performance evaluation of cogeneration equipments and high efficiency boilers trough a computerized test bench
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Celma Pueyo, Santiago. Análisis armónico con instrumentos programables vía IEEE-488 = Harmonic analysis with IEEE-488 programmable instruments
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